Giới thiệu về máy đo độ dày vật liệu PCE CT 65-ICA

Máy đo độ dày vật liệu PCE CT 65-ICA là một thiết bị đo lường chuyên dụng, được thiết kế để đo độ dày lớp phủ trên các bề mặt kim loại sắt và kim loại màu. Sản phẩm này phù hợp cho các kỹ sư, nhà quản lý chất lượng và các chuyên gia kỹ thuật trong ngành công nghiệp sản xuất và kiểm tra chất lượng.

Phân tích thông số kỹ thuật

Đo trên kim loại sắt

• Nguyên tắc đo: Cảm ứng từ
• Dải đo: 0 ... 1350 µm / 0 ... 53,1 mils
• Độ chính xác: 0 ... 1000 µm: ± (2,5% ± 2 µm); 1000 µm ... 1350 µm: ± 3,5%
• Độ phân giải: 0 ... 100 µm: 0,1 µm; 100 µm ... 1000 µm: 1 µm; trong 1000 mm ... 1350 µm: 0,01 mm

Đo trên kim loại màu

• Nguyên tắc đo: Dòng Eddy
• Dải đo: 0 ... 1350 µm / 0 ... 53,1 mils
• Độ chính xác: 0 ... 1000 µm: ± (2,5% ± 2 µm); 1000 µm ... 1350 µm: ± 3,5%
• Độ phân giải: 0 ... 100 µm: 0,1 µm; 100 µm ... 1000 µm: 1 µm; trong 1000 mm ... 1350 µm: 0,01 mm

Ưu điểm và hạn chế

Ưu điểm:

• Độ chính xác cao trong đo lường, phù hợp cho các ứng dụng đòi hỏi độ chính xác.
• Khả năng lưu trữ lớn với 30 nhóm lưu trữ và 1500 phép đo tổng.
• Giao diện USB giúp dễ dàng truyền dữ liệu.
• Chức năng báo động và tự động tắt máy giúp tiết kiệm năng lượng và bảo vệ thiết bị.

Hạn chế:

• Phạm vi nhiệt độ hoạt động giới hạn từ 0 ... + 40 °C, có thể không phù hợp cho môi trường khắc nghiệt.
• Yêu cầu bề mặt đo có kích thước và độ dày tối thiểu, có thể hạn chế trong một số ứng dụng đặc biệt.

Ứng dụng thực tế

Máy đo độ dày PCE CT 65-ICA được sử dụng rộng rãi trong các ngành công nghiệp như ô tô, hàng không, và sản xuất kim loại. Thiết bị này giúp đảm bảo chất lượng lớp phủ, từ đó cải thiện độ bền và hiệu suất của sản phẩm cuối cùng. Ngoài ra, nó còn được sử dụng trong các phòng thí nghiệm để kiểm tra và nghiên cứu vật liệu.

So sánh và phân tích

So với các thiết bị đo độ dày khác trên thị trường, PCE CT 65-ICA nổi bật với khả năng đo chính xác trên cả kim loại sắt và kim loại màu. Tuy nhiên, cần lưu ý rằng một số thiết bị khác có thể cung cấp phạm vi nhiệt độ hoạt động rộng hơn hoặc khả năng đo trên các bề mặt không đều.